在復雜形狀的通用零部件尺寸及幾何公差檢測中，如何提高檢測效率并保證檢測精度？

時間：2025-12-10

作者：優爾鴻信檢測技術(深圳)有限公司

15827322876

詞條
詞條說明
優爾鴻信成分分析|FTIR紅外光譜分析實驗室資源
FTIR紅外光譜分析實驗室資源哪些樣品可以用FTIR紅外光譜儀來測？無機物粉塵可以用FTIR測試嗎？紅外光譜分析可以看出混合有機物成分嗎？電子產品的包裝薄膜，多層復合膜用哪些材料，能用FTIR分析測試嗎？ SMT工藝是否有助焊劑flux污染到PCBA，紅外光譜可以分析出來嗎？塑膠異色，懷疑原料粒子有混料，紅外光譜可以分辨出來嗎？無塵室內partcile成份分析可以打紅外嗎？能識別par
優爾鴻信精密量測|形位公差分類-定向-輪廓度-幾何形狀
形位公差依跳動分類：圓跳動形位公差和全跳動形位公差。圓跳動形位公差，又分為：徑向圓跳動公差、端面圓跳動形位公差、斜向圓跳動公差、斜向（給定角度的）圓跳動公差。形位公差，依定向分類形位公差，依定向分類：平行度形位公差、垂直度形位公差、傾斜度形位公差。有分為線對線平行度公差、線對面平行度公差、面對線平行度公差、面對面平行度公差。形位公差依輪廓度分類形位公差，依輪廓度分類，可以分為，線輪廓度形位公差
優爾鴻信成分分析|電子產品重金屬超標怎么檢測？
作為化學成分檢測第三方機構，優爾鴻信，在電子產品、汽車材料零部件、半導體材料、電子元件、塑料原料、金屬材料、產品工業、整機環保管控等領域，針對重金屬超標測試，已有成熟的分析方案。常用重金屬含量測定方法有：XRF熒光光譜法、ICP電感耦合等離子體光譜法、ICP-MS電感耦合等離子質譜法、AAS原子吸收法、UV紫外可分光光度法等。XRF熒光光譜法，具有快速、無損檢測表面成分的優勢。ICP電感耦合等離子
如何采用光譜分析法檢測電子電器產品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力？
采用光譜分析法檢測電子電器產品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力，通常可以使用以下步驟：首先，準備好待檢測的樣品，確保其表面清潔、無損傷和污染物，以獲得準確的檢測結果。常用的光譜分析方法如 X 射線熒光光譜法（XRF），利用 X 射線激發樣品中的原子，產生特征熒光 X 射線。通過測量這些熒光 X 射線的能量和強度，可以確定樣品中元素的種類和含量。對于鎳鍍層厚度的檢測，XRF 能夠根據鎳元素的特征譜線強度來