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氣候環(huán)境試驗是評價產(chǎn)品可靠性的主要試驗方法之一,通過模擬各種環(huán)境條件,測試產(chǎn)品的性能。氣候環(huán)境試驗常見的項目有以下這些:高溫試驗、低溫試驗、溫度快速變化試驗、溫度沖擊試驗、恒定溫濕度試驗、溫濕度循環(huán)試驗、鹽霧試驗、防水防塵試驗、紫外老化試驗和氙燈老化試驗等。1、高溫試驗主要是用來測試樣品在高溫條件下貯存或使用的性能。常用于像熱帶天氣或煉鋼廠等高溫環(huán)境下工作的儀器、設(shè)備等。試驗設(shè)備:高低溫(濕熱)試
非破壞性測試:**質(zhì)量的無損利器 在工業(yè)制造、建筑工程、航空航天等領(lǐng)域,產(chǎn)品的質(zhì)量與安全性至關(guān)重要。如何在不損傷材料或構(gòu)件的前提下檢測其內(nèi)部缺陷?非破壞性測試(NDT)為此提供了*可靠的解決方案。 非破壞性測試的核心優(yōu)勢在于其“無損”特性。傳統(tǒng)的破壞性測試需要切割、拉伸或壓碎樣品,而非破壞性測試則通過超聲波、射線、磁粉、滲透等方法,在不影響材料使用性能的情況下,精準(zhǔn)識別裂紋、氣孔、夾雜等缺陷。這
電路板清潔度檢測的關(guān)鍵技術(shù)與方法 在現(xiàn)代電子制造中,PCB(印刷電路板)的清潔度直接影響產(chǎn)品的可靠性和壽命。殘留的助焊劑、粉塵或離子污染物可能導(dǎo)致短路、腐蝕或信號干擾,因此清潔度檢測成為生產(chǎn)流程中*的一環(huán)。 清潔度檢測的核心指標(biāo) 清潔度檢測主要關(guān)注離子污染、顆粒殘留和表面絕緣電阻等指標(biāo)。離子污染通常通過溶劑萃取法測量,利用測試溶液溶解污染物后檢測其電導(dǎo)率變化。顆粒殘留則借助光學(xué)顯微鏡或電子
近年來,由于機動車設(shè)備不良導(dǎo)致的交通事故頻發(fā),其中主要癥結(jié)就在于零件加工過程中清洗不凈,整機裝配時又混入不少雜質(zhì)和塵埃。這些固體顆粒污染物、大尺寸污染物導(dǎo)致的設(shè)備失效以及設(shè)備運行不穩(wěn)定不僅會縮短產(chǎn)品壽命,而且會帶來致命的傷害,因此越來越多的廠家開始意識到清潔度檢測的重要性。清潔度是指零件、總成及整機等的特定部位被雜質(zhì)污染的程度,且表示零件或產(chǎn)品清洗后在其表面殘留的污物的量。清潔度測試最早應(yīng)用于航空
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