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X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer-XRF)是一種通過X射線激發樣品中元素的特征X熒光射線,探測其光子能量和數量來進行定性、定量分析,來實現快速、無損檢測的分析儀器。江蘇一六儀器有限公司一直專注于光譜測厚儀的研發和生產,近些年服務了眾多客戶,獲得了一直**。今天就跟著光譜測厚儀生產廠家一六儀器來了解一下XTU系列的光譜測厚儀吧。XTU系列光譜測厚儀,采
貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測一般依據兩項國家標準來進行,國家質檢總局發布的國家標準GB/T18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進行貴金屬含量的無損檢測方法。目前在貴金屬制造行業已經形成大規模使用X熒光光譜儀(XRF)來測試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業鍍層檢測方面有哪些優勢呢?今天就和光譜分析儀生產
全自動多功能XRF分析儀,搭載全自動移動平臺和影像識別功能,既能檢測納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,也可滿足微區RoHS檢測及全元素成分分析。接下來和全自動多功能XRF分析儀優勢及應用鄰域。全自動多功能XRF分析儀優勢:1)搭載微聚焦加強型X射線發生器和**的光路轉換聚焦系統,較小測量面積達0.03mm2;2)擁有無損變焦檢測技術,手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍
XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀,既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析,搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移,實現**多點測量,測量軟件置入**的EFP算法及解譜技術,解決了諸多業界難題。全元素上照式x熒光光譜儀被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。上照式x熒光光譜儀產品細節:高精密移動裝置快速精準定位;自動
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