光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面的應(yīng)用介紹

時(shí)間：2022-05-31作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：228

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 安徽膜厚測(cè)量?jī)x使用維修等常見(jiàn)問(wèn)題解答

  經(jīng)常使用膜厚測(cè)量?jī)x的客戶都知道使用時(shí)候或多或少都會(huì)遇到一些小問(wèn)題或出現(xiàn)一些故障問(wèn)題，如測(cè)量出來(lái)數(shù)據(jù)有偏差、儀器使用時(shí)候開(kāi)不了機(jī)、測(cè)量時(shí)候儀器無(wú)反應(yīng)等等情況都有發(fā)生，下面就和一六膜厚測(cè)量?jī)x生產(chǎn)廠商一起了解安徽膜厚測(cè)量?jī)x使用維修等常見(jiàn)問(wèn)題解答。1.膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)量不準(zhǔn)①請(qǐng)**系統(tǒng)校準(zhǔn)儀器，標(biāo)定，使之契合誤差范圍。誤差遵照≦3%(厚度值)，如需測(cè)試愈加請(qǐng)?jiān)诒粶y(cè)工件的潤(rùn)滑裸基上(未涂裝的基體上)停止系統(tǒng)校準(zhǔn)

• 影響鍍層測(cè)厚儀測(cè)量準(zhǔn)確性的因素有哪些？

  大家在使用鍍層測(cè)厚儀時(shí)可能會(huì)遇到儀器的檢測(cè)數(shù)據(jù)突然變得不準(zhǔn)確的情況，這時(shí)候大家可能會(huì)比較納悶，這到底是哪里出了問(wèn)題呢?如果我們?cè)谑褂玫臅r(shí)候出現(xiàn)問(wèn)題應(yīng)該從哪些方面排除原因呢?影響鍍層測(cè)厚儀測(cè)量準(zhǔn)確性的因素有哪些?我們應(yīng)該注意哪些內(nèi)容?今天就跟著鍍層測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器來(lái)分享一下吧。1. 環(huán)境因素如果鍍層測(cè)厚儀供電電壓不穩(wěn)定、放大器受潮、空氣腐蝕性強(qiáng)導(dǎo)致電路元器件或檢測(cè)器被腐蝕或損壞，這樣不僅會(huì)影響

• 一六儀器生產(chǎn)的XAD系列光譜分析儀有哪些優(yōu)勢(shì)？

  江蘇一六儀器生產(chǎn)的XAD系列熒光光譜儀是一款上照式全元素光譜儀，可測(cè)量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及多元素成分分析，**的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。1. 微小樣品檢測(cè)：較小測(cè)量面積0.008mm2 ;2. 變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-90mm ;3. *的EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析，Li(3

• 膜厚常見(jiàn)測(cè)試方法有哪幾種呢？

  膜厚測(cè)試儀經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，已經(jīng)有了很大的進(jìn)步。我們測(cè)量膜厚的方法有很多，這些方法也各有各的使用應(yīng)用特點(diǎn)，我們還是需要增加對(duì)于他們的了解。今天我們一六儀器的小編就來(lái)跟大家介紹一下膜厚測(cè)試儀的幾種測(cè)試方法。1.金相顯微鏡法：利用顯微鏡光學(xué)原理，對(duì)物體進(jìn)行放大，可以觀察到物體表面或斷面的金相顯微結(jié)構(gòu)。應(yīng)用特點(diǎn)：破壞性測(cè)試，耗時(shí)長(zhǎng)，價(jià)格昂貴。2.庫(kù)倫法：根據(jù)庫(kù)侖定律,以溶解鍍層金屬消耗的電量、溶解鍍層面積