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半導體芯片高低溫濕熱試驗箱是一種專門用于對半導體芯片和電子元器件進行高溫、低溫和濕熱環境測試的設備。它可以模擬不同的環境條件,以評估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據相關標準,可以對半導體芯片進行的試驗有以下5個:1. 高溫儲存測試條件:85℃±5℃持續時間:1000h2. 低溫儲存測試條件:-40℃±5℃持續時間:1000h3. 溫度循環測試條件:-40℃~85℃持續時間:200
1.鋰電池的放置存儲①存儲電池應在通風好,干燥和陰涼的條件高溫或高濕可能引起電池性能的退化和/或表面的腐蝕②電池紙箱的疊放高度不應**過制造商規定的高度。如果太多的電池紙箱疊放,在較下面的紙箱可能變形和電解液泄漏發生。③避免電池放在陽光直曬的地方或可能淋雨的地方,當電池變濕以后,它們的絕緣電阻可能變小,且發生自放電和腐蝕。過熱可能引起退化。④使用起始包裝儲存電池,當電池沒有包裝或混亂,可能引起短路或
EX系列中型溫濕度箱 型號*1 EXT(H)600U-15-ESS EXT(H)1000U-15-ESS EXT(H)2000U-15-ESS 電源 交流380V 50赫茲 3相+N+PE 較大電流 53/60 69/76 93/100 最大功率 31/32.5 40/42.5 52.5/54 冷卻水流量 6.5 9.5 6.5 使用環境溫/濕度 +15~+35℃/≤85%RH 控制方式 獨立的冷
三綜合試驗箱是溫濕度和振動結合的高低溫環境試驗箱,用三綜合試驗箱進行試驗的目的為確定溫度、濕度、振動對機電產品在地面和飛行期間的表現、安全性及性能的綜合影響。該試驗的某些部分可以應用于地面車輛,一般在這種情況下進行試驗不考慮高度。也可以通過試驗評價產品在空中(或海拔地區)受到溫度、濕度和振動的綜合作用時可能引發的故障。該實驗還可用于工程研制試驗、飛行或使用支持試驗、鑒定試驗和其他類似目的的試驗。&
公司名: 廣東宏展科技有限公司
聯系人: 曾小姐
電 話: 18688888287
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地 址: 廣東東莞常平Lab Companion Park
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