藝術(shù)品用Xenics紅外相機(jī)應(yīng)用原理

時(shí)間：2022-06-16作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：273

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  詞條說明

• Alluxa推出H-alpha系列天文學(xué)深截止濾波片656nm

  Alluxa,Inc.宣布開發(fā)了兩款突破性的氫Alpha(H-alpha)發(fā)射線的窄帶濾波片，可用于天文學(xué)應(yīng)用。雖然這些新型濾光片目前是專門為監(jiān)測(cè)天文學(xué)中的H-α光譜而定制的，但它們也可用于其他譜線的辨別，應(yīng)用包括光譜學(xué)、等離子體監(jiān)測(cè)、聚變研究等。新型的5腔H-alpha濾光片在方形度方面為窄帶濾波片設(shè)立了新標(biāo)準(zhǔn)。它的50%帶寬僅為0.35nm，1%帶寬<0.6nm，峰值透射率約為80%，并

• 簡(jiǎn)單測(cè)試Alphalas**快探測(cè)器能否正常使用

  Alphalas UPD系列超快光電探測(cè)器覆蓋170至2600nm的光譜范圍，是激光和光子學(xué)研究不可或缺的工具。但是在運(yùn)輸?shù)倪^程中難免會(huì)出現(xiàn)損壞的情況，需要進(jìn)行超快光電探測(cè)器檢測(cè)。本文主要介紹對(duì)UPD超快光電探測(cè)器的一般功能的簡(jiǎn)單測(cè)試，幫助客戶在使用前判斷UPD光電探測(cè)器的好壞。所有光電二極管均封裝在緊湊堅(jiān)固的鋁制外殼中，并可通過電池或外部電源進(jìn)行偏置。以下是UPD超快探測(cè)器檢測(cè)的簡(jiǎn)單判斷：1.

• 光纖光譜儀應(yīng)用在檢測(cè)薄膜厚度

  首先介紹一下光的干涉。由于光的波動(dòng)特性，若干列光波在空間相遇時(shí)，互相疊加或互相抵消，引起光強(qiáng)的重新分布，在某些區(qū)域始終加強(qiáng)，在某些區(qū)域始終減弱，從而出現(xiàn)了明暗相間的條紋，這種現(xiàn)象稱為光的干涉。使用光纖光譜儀測(cè)薄膜厚度上圖為使用海洋光學(xué)光纖光譜儀，利用干涉效應(yīng)來測(cè)量薄膜厚度的原理圖。當(dāng)一束光以θ1從薄膜表面入射，其中一部分光直接反射，另一部分光則以θ2進(jìn)入薄膜發(fā)生折射，折射光經(jīng)膜層下表面反射后，再經(jīng)

• 海洋光學(xué)的光纖光譜儀對(duì)薄膜厚度測(cè)量的工作原理

  首先介紹一下光的干涉。由于光的波動(dòng)特性，若干列光波在空間相遇時(shí)，互相疊加或互相抵消，引起光強(qiáng)的重新分布，在某些區(qū)域始終加強(qiáng)，在某些區(qū)域始終減弱，從而出現(xiàn)了明暗相間的條紋，這種現(xiàn)象稱為光的干涉。我們回顧一下物理學(xué)史上著名的光學(xué)實(shí)驗(yàn)——楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)。單色光源從小孔S進(jìn)入，從小孔S射出并經(jīng)過兩個(gè)對(duì)稱的小孔S1、S2。由S1、S2分射出的兩列光波來源于同一光波，頻率相同、振動(dòng)方向相同、相位差恒定，因而