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如何使用ROHS測試儀XRF定量分析必須注意的是:x射線熒光光譜分析值提供管制物質以元素形式存在與否的信息。必須特別注意例如Cr以及Br,所得的結果是總Cr和總的Br,而不反映其存在的形式。因此如果存在Cr,Br的時候,六價鉻,PBB,PBDE必須使用確認測試程序進行確認。另一方面,如果沒有Cr,Br的存在,那么就不可能存在Cr(VI),PBB,PBDE。分析方法必須小心的執行校正,考慮:光譜干擾
1。測量對象引入的誤差測量對象引入的測量誤差主要包括以下幾方面:1、覆蓋層厚度的影響2、基體金屬磁性的影響3、基體金屬厚度的影響4、材料的邊緣效應的影響5、基體金屬機械加工方向的影響6、基體金屬剩磁的影響7、基體金屬曲率的影響8、基體金屬表面粗糙度的影響對上述因素產生的測量誤差分析如下:1、對于較薄的覆蓋層,由于受儀器本身測量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響,較難準確測量覆蓋層厚度,尤其是當覆蓋層厚度
測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表?,F在應用比較廣泛的有激光測厚儀、在線測厚儀、鋰電池測厚儀。X射線測厚儀等等。其中X射線測厚儀爭議比較大,因為射線對人體是有輻射的,但是在工業上X射線又能給我們提供很大的便利。所以,我們使用x射線測厚儀如何保證安全呢?X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯系人: 劉經理
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