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● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征*可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。*可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。*薄膜FP法軟件是標準配置,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量。此外,適用于無鉛焊錫的應用。*備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。(SII**)● 2.測量原理如圖1所示,
手持式光譜儀在使用的時候,對于環境是有一定的要求,不要在潮濕的環境下工作的,環境濕度0-95%之間為較好,不能在太高溫下操作工作,這樣的理由是避免各類磁場的干擾,如此儀器分析的時候才能檢測出較精確的精度。所以,大家在工作的時候要注意環境的適合度,很多時候儀器檢測不標準跟環境還是有很大程度上的關系。一、手持式光譜儀對于操作人員也是要一定要求的,測試樣品**定要請儀器廠商的技術人員現場演示,并且對技術
原理:X射線熒光X射線存在于電磁波譜中的一個特定區域,它由原子內部電子躍遷產生,其波長范圍在0.1-100?;能量大于100電子伏特.X射線熒光是一個原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程。X ray fluorescence物質受原級X射線或其他光子源照射,受激產生次級X射線的現象。它只包含特征X射線,沒有連續X射線。分別以原級、一級、二級X射線激發,可產生一級、二級、三級X
X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后,儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來,X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展,已成為一種
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯系人: 李經理
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手 機: 18550531168
微 信: 18550531168
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮青陽北路860號
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網 址: skyray1.b2b168.com
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