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RoHS檢測儀目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀,又分為能量色散型和波長色散型,能量色散型因其技術原理及結構比波長色散型簡單,現市場上比較常見,其技術原理:特征X射線放射性同位素源或X射線發生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用,逐出原子內層電子。當外層電子補充內層電子時,會放射該原子所固有能量的X射線-特征X射線。元素含量與特征X射線強度的關系不同元素特征X射線能量各不相同,依此
EDX8000L是EDX3600L型的升級產品,利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的*部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣,一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量,再對照中國古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的功效
測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。現在應用比較廣泛的有激光測厚儀、在線測厚儀、鋰電池測厚儀。X射線測厚儀等等。其中X射線測厚儀爭議比較大,因為射線對人體是有輻射的,但是在工業上X射線又能給我們提供很大的便利。所以,我們使用x射線測厚儀如何保證安全呢?X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業
1。測量對象引入的誤差測量對象引入的測量誤差主要包括以下幾方面:1、覆蓋層厚度的影響2、基體金屬磁性的影響3、基體金屬厚度的影響4、材料的邊緣效應的影響5、基體金屬機械加工方向的影響6、基體金屬剩磁的影響7、基體金屬曲率的影響8、基體金屬表面粗糙度的影響對上述因素產生的測量誤差分析如下:1、對于較薄的覆蓋層,由于受儀器本身測量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響,較難準確測量覆蓋層厚度,尤其是當覆蓋層厚度
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
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