平板電腦的**性測(cè)試之環(huán)境試驗(yàn)

時(shí)間：2020-01-05作者：上海祥微試驗(yàn)設(shè)備有限公司瀏覽：894

上海祥微試驗(yàn)設(shè)備有限公司專注于低溫脆化試驗(yàn)機(jī)、低溫脆化試驗(yàn)儀、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱 （恒溫恒濕箱）、**溫度變化試驗(yàn)箱、三綜等

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  太陽能光伏組件**性試驗(yàn)的**與認(rèn)識(shí) 面2: 太陽能模塊的使用壽命一般至少是20年至30年，所以相關(guān)的**度試驗(yàn)是要用來驗(yàn)證太陽能模塊在20年后的老化情形，目前太陽能模塊較常用的**試驗(yàn)條件就是IEC61215的試驗(yàn)條件，至于JISC8917或是GB9535以及UL1703都是從IEC衍生出來的，另外IEC61215的試驗(yàn)適用于結(jié)晶型的太陽能模塊，而薄膜型的太陽能模塊則需使用IEC61646的規(guī)

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  IEC 68-2-5地面太陽輻射模擬試驗(yàn)規(guī)范為決定組件及裝備在地球表面，暴露于太陽輻射環(huán)境下時(shí)所產(chǎn)生的物理化學(xué)效應(yīng)(如：熱、機(jī)械、化學(xué)變化、電性)，本試驗(yàn)所仿真環(huán)境的主要特征，為控制試驗(yàn)環(huán)境溫濕度條件下的太陽光譜能量分布(spectral energy distribution)與吸收的能量強(qiáng)度(intensity of received energy)，試驗(yàn)方式總共有三種程序(程序A：熱效應(yīng)評(píng)