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詞條說明
X 射線熒光分析儀(XRF)是基于熒光 X 射線**原理的元素分析儀器,廣泛應用于地質、冶金、環保等領域的元素定性與定量檢測。其**原理是利用高能 X 射線激發樣品原子,使原子內殼層電子躍遷,外層電子填充空位時釋放特征熒光 X 射線,通過檢測熒光的能量和強度實現元素識別與含量計算。一、基本原理激發過程:入射 X 射線(初級 X 射線)能量需大于樣品原子內殼層(如 K、L 層)電子的結合能,才能將電
全自動菌落計數器是微生物檢測中的**儀器,規范操作不僅能保證計數結果精準,還能延長儀器使用壽命。以下為詳細操作步驟:開機準備需細致。操作前檢查儀器電源線連接牢固,確保電源電壓匹配。打開電源開關后,等待儀器自檢完成(通常需 30 秒 - 1 分鐘),觀察顯示屏是否正常顯示、光源是否穩定,同時清潔載物臺和鏡頭,去除灰塵或殘留污漬,避免影響成像效果。樣品處理要規范。將培養好的菌落平板取出,確認平板無破損
原子吸收光譜儀的氣路系統(載氣、燃氣、助燃氣)直接影響檢測精度與運行安全,氣路檢查是調試**環節,需通過密封性、氣體純度、壓力流量校準三步實現穩定運行,具體操作如下:氣路密封性檢查:安全運行基礎密封性故障易導致氣體泄漏、檢測信號漂移,常用兩種排查方式:一是壓力保壓法,關閉氣源出口閥門,將氣路壓力升至儀器工作壓力(通常 0.3-0.5MPa),靜置 30 分鐘,壓力下降不**過 0.02MPa 為合格
自動調諧是氣質聯用儀(GC-MS)維持檢測精度的關鍵步驟,調諧異常會直接導致定性定量結果失真。以下為三類常見故障原因及排查要點:離子源污染或老化是首要誘因。離子源作為離子化**部件,長期使用后易積累樣品殘留、污染物或燈絲氧化物。表現為調諧報告中基峰強度低、離子豐度比異常,甚至出現無峰信號。排查時需檢查燈絲是否斷裂、**電流是否正常,定期進行離子源清洗,更換老化燈絲,確保離子化效率穩定。真空系統故障
公司名: 上海隱智科學儀器有限公司
聯系人: 陳允華
電 話:
手 機: 13701760200
微 信: 13701760200
地 址: 上海浦東金橋開發區置業路111號3號樓1樓東側
郵 編:
網 址: yinzhisci.b2b168.com
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