詞條
詞條說(shuō)明
冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試
芯片(chip),又稱微芯片(microchip),是集成電路的載體。一般而言,芯片(IC)泛指所有的半導(dǎo)體元器件,是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分,承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開(kāi)關(guān)特性以及開(kāi)關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過(guò)高時(shí)元器件體積發(fā)生
一、避免鋰電池因?yàn)E用導(dǎo)致爆炸等安全事故鋰電池的出現(xiàn),為許多電子產(chǎn)品制造商提供了較大的方便,特別是隨著各類可充電電池的普及。不過(guò)這種電池的使用,還是引起了不少事故,其中一個(gè)原因就是對(duì)鋰電池的檢驗(yàn)不夠嚴(yán)格。對(duì)鋰電池的檢測(cè)需要提供特定的溫度和合適的環(huán)境保存報(bào)告,從而得出電池的正確使用方法。二、延長(zhǎng)鋰電池的使用壽命在市場(chǎng)上,有一種專門提供的鋰電池測(cè)試服務(wù),它可以對(duì)鋰電池進(jìn)行高度的仿真測(cè)試,它的壽命取決于充
高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗(yàn)室,產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在試驗(yàn)室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過(guò)電機(jī)帶動(dòng)提籃運(yùn)動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)高低溫的切換,產(chǎn)品放在提籃里,是隨提籃一起移動(dòng)的。為了確保高低溫沖擊試驗(yàn)箱的正確使用、避免儀器和產(chǎn)品因使用不當(dāng)而造成的損壞,提高產(chǎn)品測(cè)試數(shù)據(jù)的有效性、真實(shí)性、準(zhǔn)確性。使用人員要負(fù)責(zé)日常儀器的點(diǎn)檢
五金件(一).耐腐蝕測(cè)試:Kb鹽霧試驗(yàn)交變鹽霧(氯化鈉溶液)試驗(yàn)接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)清洗濟(jì)中浸漬試驗(yàn)高濃度二氧化硫試驗(yàn)大氣腐蝕加速試驗(yàn),需要用到的設(shè)備有:鹽霧試驗(yàn)箱二氧化硫鹽霧試驗(yàn)箱(或稱二氧化硫腐蝕試驗(yàn)箱)鹽霧交變?cè)囼?yàn)箱。(二).氣候環(huán)境測(cè)試:長(zhǎng)霉低氣壓試驗(yàn)低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)砂塵試驗(yàn)防水等級(jí)試驗(yàn)Cx未飽和高壓蒸氣恒定濕熱
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