半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測試時的注意事項

時間：2023-07-08作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：143

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  詞條說明

• 什么是IEC 60086-4標(biāo)準(zhǔn)

  1.?IEC60086-4一次性鋰電池測試標(biāo)準(zhǔn)簡介在目前國際或國內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)中，除了UN38.3等通用標(biāo)準(zhǔn)外，針對一次鋰電池（原電池）的特定標(biāo)準(zhǔn)并不多，其中IEC60086-4是常用的針對一次鋰電池的安全和可靠性標(biāo)準(zhǔn)。在此標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了一次鋰原電池的檢驗項目和要求，以鋰原電池在預(yù)期的使用以及可合理預(yù)見的誤使用情況下安全工作。2.IEC60086-4標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢驗項目如下：海拔模擬：模擬在低壓體

• 2022中國光網(wǎng)絡(luò)研討會圓滿結(jié)束,廣東宏展應(yīng)邀參加本次會議

  2022年8月3日*22屆2022中國光網(wǎng)絡(luò)研討會在北京新青海喜來登酒店盛大開幕，廣東宏展儀器受邀參加大會，本次大會會聚職業(yè)工業(yè)鏈及各大院校，為尋求產(chǎn)學(xué)研融合，一起討論光通訊技能更大市場機(jī)會，助力光通訊工業(yè)及其智能化的工業(yè)提升，廣東宏展應(yīng)邀出席本次研討會！北京大學(xué)信息科學(xué)技能學(xué)院現(xiàn)代通訊研究所教授周國平發(fā)表講話，他介紹了光電子芯片的開展進(jìn)程，從1950年開展至今，光電子芯片不斷更新?lián)Q代，現(xiàn)在已經(jīng)成

• 半導(dǎo)體芯片為什么需要用高低溫濕熱箱進(jìn)行試驗檢測？

  半導(dǎo)體芯片在實際應(yīng)用中常常面臨各種溫度和濕度條件，而這些條件可能對其性能、可靠性和壽命產(chǎn)生影響。因此，半導(dǎo)體制造企業(yè)會進(jìn)行高低溫濕熱試驗，這試驗對半導(dǎo)體芯片至關(guān)重要。半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱箱的應(yīng)用在試驗過程中起到什么樣的作用？1. 可靠性評估：高低溫濕熱試驗可以模擬半導(dǎo)體芯片在較端環(huán)境條件下的使用情況，例如較高溫度、低溫、高濕度或濕熱環(huán)境。通過在這些條件下進(jìn)行試驗，可以評估芯片在長期使用過程中的可靠

• GB/T2423.1低溫試驗步驟

  GB/T2423.1是針對電工電子產(chǎn)品的國標(biāo)低溫試驗標(biāo)準(zhǔn)，等同于國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1。GB/T2423.1低溫試驗的步驟如下：1.初步檢測。通過目視檢查和（或）按相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行功能檢測來獲知試驗樣品的初始狀態(tài)。2.條件試驗。試驗樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細(xì)規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時間。如果有試驗樣品不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的意外情況，整個試驗持續(xù)的時間應(yīng)該從試驗樣品通電時開始計算。通常這種