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詞條說明
高低溫試驗箱在出廠前是需要校準計量的,由于高低溫試驗箱只有一個溫度特征,我們只需要計量它的溫度波動度、溫度均勻度即可,無濕度要求。1、計量方法:計量在空載條件下進行。若帶有負載,應在證書中說明負載情況。2、計量點位置:當設備容積小于2m3時,溫度點9個;當設備容積大于2 m3,溫度點15個。3、波動度(以溫度為例):△Tf=±(Tfmax-Tfmin)/2式中:△Tf——溫度波動度,℃;Tfmax
五金件(一).耐腐蝕測試:Kb鹽霧試驗交變鹽霧(氯化鈉溶液)試驗接觸點和連接件的二氧化硫試驗接觸點和連接件的硫化氫試驗流動混合氣體腐蝕試驗清洗濟中浸漬試驗高濃度二氧化硫試驗大氣腐蝕加速試驗,需要用到的設備有:鹽霧試驗箱二氧化硫鹽霧試驗箱(或稱二氧化硫腐蝕試驗箱)鹽霧交變試驗箱。(二).氣候環境測試:長霉低氣壓試驗低溫/低氣壓綜合試驗高溫/低氣壓綜合試驗砂塵試驗防水等級試驗Cx未飽和高壓蒸氣恒定濕熱
半導體芯片在實際應用中常常面臨各種溫度和濕度條件,而這些條件可能對其性能、可靠性和壽命產生影響。因此,半導體制造企業會進行高低溫濕熱試驗,這試驗對半導體芯片至關重要。半導體芯片高低溫濕熱箱的應用在試驗過程中起到什么樣的作用?1. 可靠性評估:高低溫濕熱試驗可以模擬半導體芯片在較端環境條件下的使用情況,例如較高溫度、低溫、高濕度或濕熱環境。通過在這些條件下進行試驗,可以評估芯片在長期使用過程中的可靠
恒溫恒濕試驗箱可選擇-40°C型單級制冷循環,也可采用級聯制冷循環系統,但單級制冷循環依賴于小型膨脹閥開度。則壓實機會減少制冷劑流量,限制流量以降低蒸騰壓力(約0.7個大氣壓)以達到較低的蒸發溫度,這樣的計劃是通過犧牲系統的冷卻能力(冷卻能力僅為規格的約0.7至0.8)來實現的,從而導致制冷功率低,壓實機的負荷增加,壓實機的線圈容*熱,影響壓實機的壽命。恒溫恒濕試驗箱制冷系統規劃:當低于-20°
公司名: 廣東宏展科技有限公司
聯系人: 曾小姐
電 話: 18688888287
手 機: 18688888287
微 信: 18688888287
地 址: 廣東東莞常平Lab Companion Park
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