手持光譜儀助力廢舊金屬回收行業

時間：2024-01-11

作者：無錫創想分析儀器有限公司杭州分公司

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直讀光譜儀常用光源的放電方式有哪些？
直讀光譜儀，目前常用的光源有以下兩種：一是經典光源包括電弧及火花光源，二是等離子體光源居多。其中在冶金分析中廣泛應用的有高壓控波光源、低壓火花高速光源和高能預火花光源。那么光譜分析常用光源的放電方式有哪些呢？1. 高能預火花放電較大電流可達150安和燃燒時間為150微秒，這樣使試樣中燃燒斑點內的組織結構較加均勻，由此來消除元素之間干擾及元素之間結合等效應。2.火花型放電對大多數元素重現性好。3.電
臺式x熒光光譜儀是否可以測金屬鍍層？
近日，創想小編收到來自售前的反饋說有客戶咨詢臺式x熒光光譜儀可不可以測金屬鍍層？接下來小編來回答一下這個問題。臺式X熒光光譜儀是通過激發樣品中的分子或原子，使其發生熒光**，然后檢測產生的熒光光譜來分析樣品的成分和結構。現如今臺式X熒光光譜儀是一種非常常用的分析儀器，很受廠家的青睞。答案是肯定的。事實上，臺式X熒光光譜儀可以用于測量各種類型的金屬鍍層，包括鍍鉻、鍍鋅、鍍鎳、鍍銅等。這是因為金屬鍍層
造成手持式光譜儀系統誤差的主要因素有哪些？
我們都知道，手持式光譜儀是一種常用的分析儀器。它具有便攜性，高分辨率和信噪比，但就是這樣的儀器還會造成輕微的系統誤差。接下來我就會簡單的介紹一下造成手持式光譜儀系統誤差的主要因素。盡管手持式光譜儀具有很高的測量精度，但是在測量樣品中的元素含量時，獲得的結果通常與實際含量不一致，存在一定的誤差，并且由于許多因素，某些材料的含量非常低。造成手持式光譜儀系統誤差的主要因素： 1.當標準樣品和樣品的含
臺式X熒光光譜儀中干擾譜線因素怎么去除？
臺式X熒光光譜儀在X射線光譜分析中，由于譜線之前互相干擾比較少，并且減少這種干擾的方法較多，在多數情況下譜線干擾現象不是影響分析結果的主要因素。不過我們在檢測稀土化合物中稀土元素中，發現這種干擾，輕則影響強度的確定，增加分析線強度測量的統計誤差，降低分析元素的測定靈敏度；重則是某些分析元素特別是微量元素無法準確測定。因此克服干擾譜線對于改善測定結果的準確度是十分必要的。在X射線光譜法中，如上所述，