臺式X熒光光譜儀檢測分析時采用的定律分析

時間：2023-11-17作者：無錫創想分析儀器有限公司杭州分公司瀏覽：64

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  詞條說明

• 臺式X熒光光譜儀測試時粉末樣品誤差的幾個來源分析

  臺式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點（不能用添加劑）。在各種應用中，粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個臺式X熒光光譜儀測試時粉末樣品誤差來源。粉末樣品誤差主要來源：（1） 粒度效應 粉末樣品粒度效應是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關。一般來說，被分析樣品的粒度越小，熒光強度越高，輕元素尤甚。原子序數越小，對粒度越敏感；同一元素粒度越小，

• 關于直讀光譜儀三種曲線制作方法詳解

  一般來說，在購買直讀光譜儀時，生產廠家會對直讀光譜儀進行曲線制作。曲線的不同，標樣的不同都會對分析結果產生影響。曲線代表著元素含量和光譜之間的函數關系。下面，我們一起來看看直讀光譜儀曲線的制作方法吧。光電直讀光譜儀原理圖標準曲線法（三標準樣品法）光譜定量分析的較基本方法就是三標準樣品法，就是需要按確定的分析條件．用3個或3個以上分析元素含量有高低差別的標準樣品，經過光源的激發燃燒，求得些譜線的強度

• 哪些鍍層可以用臺式X熒光光譜儀分析？

  現代科技的迅速發展，也促進了X熒光光譜儀的提升和進步。臺式X熒光光譜儀運用到的X射線熒光法，一直是元素分析的重要方法。它可以應用在樣品涂鍍層厚度及成分分析，而且十分受生產廠家的喜愛。今天就跟著創想小編來了解一下吧。臺式X熒光光譜儀可用于分析多種鍍層，包括但不限于：貴金屬、珠寶首飾中的黃金、鉑金等鍍層。鋼鐵、五金電鍍中的鍍鋅、鍍鉻、鍍鈦等鍍層。電子電器中PCB印刷電路板、金手指及連接器上的Au/Ni

• X熒光光譜儀檢測石灰石質量有一手！

  石灰石是一種常見的礦物質，其化學名為碳酸鈣（CaCO3）。主要成分是CaO，還含有少量ＭgCO3、SiO2、Al2O3等。通常呈白色或灰色，在光線的照射下可以有不同程度的透明度。由于其主要成分為碳酸鈣，因此可以用鹽酸測試其反應性。石灰石是一種相對柔軟的礦物質，其硬度為3級，可用刀片切割。當加熱至800℃以上時，石灰石會分解成氧化鈣和二氧化碳。在現代工業中，石灰石是一種用途較廣的寶貴資源，應用范圍廣