淺析恒溫恒濕試驗箱均勻度偏差的原因

時間：2022-09-15

作者：廣東宏展科技有限公司

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真空干燥箱要先抽真空再升溫加熱
真空干燥箱要先抽真空再升溫加熱真空干燥箱為什么要先抽真空再升溫加熱? 1)如果按先升溫加熱再抽真空的程序操作，加熱的空氣被真空泵抽出去的時候，熱量必然會被帶到真空泵上去，從而導致真空泵溫升過高，有可能使真空泵效率下降。 2)加熱后的氣體被導向真空壓力表，真空壓力表就會產生溫升。如果溫升**過了真空壓力表規定的使用溫度范圍，就可能使真空壓力表產生示值誤差。正確的使用方法應該先抽真空再升溫加熱。待
冷熱沖擊試驗箱可用于半導體芯片的測試
芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實現某種特定功能的電路模塊。它是電子設備中*重要的部分，承擔著運算和存儲的功能。?????溫度的改變對半導體的導電能力、極限電壓、極限電流以及開關特性以及開關特性等都有很大的影響。當溫度過高時元器件體積發生
全光譜陽光模擬試驗倉
全光譜陽光模擬試驗倉陽光模擬實驗艙用于檢測成套零部件或整車在陽光照射下的老化性能。用戶可通過此測試對零部件或整車在照射后性能的更改進行評估，包括形狀、顏色、光澤度、手感、強度及各種熱膨脹結果等。本系列產品符合標準MIL-STD-810，EPA,DIN75220等，并可根據客戶的其他測試需求進行特殊設計。溫濕度性能：尺寸：1立方到250立方溫度范圍：-20-+100℃ 濕度范圍：25%-
GB/T2423.1低溫試驗步驟
GB/T2423.1是針對電工電子產品的標準低溫試驗標準，等同于**標準IEC60068-2-1。GB/T2423.1低溫試驗的步驟如下：1.初步檢測。通過目視檢查和（或）按相關規范要求進行功能檢測來獲知試驗樣品的初始狀態。2.條件試驗。試驗樣品應按相關規范的詳細規定在低溫條件下暴露至規定的持續時間。如果有試驗樣品不能達到溫度穩定的意外情況，整個試驗持續的時間應該從試驗樣品通電時開始計算。通常這種