詞條
詞條說明
高低溫試驗(yàn)箱可以用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),以及溫度漸變試驗(yàn),除此之外還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。那么高低溫試驗(yàn)箱在進(jìn)行測試前都有準(zhǔn)備工作呢?高低溫試驗(yàn)箱測試前的準(zhǔn)備工作:1、確定高低溫試驗(yàn)所依據(jù)的檢測標(biāo)準(zhǔn),若沒有標(biāo)準(zhǔn)可依據(jù),可以依據(jù)相關(guān)的產(chǎn)品規(guī)范要求。2、確定高低溫試驗(yàn)的程序以及測試的條件,溫度點(diǎn),試驗(yàn)時(shí)間等。3、確定高低溫試驗(yàn)
高低溫低氣壓試驗(yàn)箱使用條件之一: 環(huán)境條件 1、溫度:15℃~35℃; 2、相對濕度:不大于85%; 3、大氣壓:80kPa~106kPa 4、周圍無強(qiáng)烈振動(dòng),無腐蝕氣體; 5、無陽光直接照射或其他冷、熱源直接輻射; 6、周圍無強(qiáng)烈氣流,當(dāng)周圍空氣需強(qiáng)制流動(dòng)時(shí),氣流不應(yīng)直接吹到箱體上; 7、周圍無干擾試驗(yàn)箱控制電路的磁場影響; 8、周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)。 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱使用條件之二:
高加速試驗(yàn)加速試驗(yàn)包括高加速壽命試驗(yàn)(HALT)和高加速應(yīng)力篩檢(HASS)。這些測試評估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性,包括高溫、高濕和設(shè)備通電時(shí)的振動(dòng)/沖擊測試。目標(biāo)是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測試期間,產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)通常包括在一個(gè)小的環(huán)境室中進(jìn)行試驗(yàn)。濕度和腐蝕許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中,因此PCB可靠性的常見測試是吸水測試。在這種類型的測試中,PCB在
環(huán)境試驗(yàn)中凝露問題淺析 1 前言 環(huán)境試驗(yàn)做為檢驗(yàn)提高電子產(chǎn)品可靠性的一種常用手段,廣泛用于電子產(chǎn)品的各個(gè)研發(fā)周期。用于確 定通訊設(shè)備對環(huán)境的適應(yīng)性。在環(huán)境試驗(yàn)過程中根據(jù)產(chǎn)品的特性,選擇合適的試驗(yàn)方法,對產(chǎn)品的機(jī)械性 能、電氣性能、物理性能、材料的抗拉強(qiáng)度和抗張力變化、絕緣性能等作出檢驗(yàn)和評估。只有選擇正確的 試驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)條件下,才能得出正確的試驗(yàn)結(jié)果。在恒定濕熱過程中,要預(yù)熱產(chǎn)品,避免大
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