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XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀,既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析,搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移,實現**多點測量,測量軟件置入**的EFP算法及解譜技術,解決了諸多業界難題。全元素上照式x熒光光譜儀被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。上照式x熒光光譜儀產品細節:高精密移動裝置快速精準定位;自動
企業想要把控產品品質,實現產品的精準化測量,鍍層測厚儀是**的。我們想要測量結果,不僅需要好的鍍層測厚儀,在使用時候還需要留意一些注意事項。今天鍍層測厚儀生產廠家一六儀器的小編給大家整理了五點注意事項,一起來看一下吧。一、工作環境一般情況下,儀器對使用環境沒有什么特殊的要求,但由于鍍層測厚儀屬于高精密儀器,為確保測試數值的準確性及延長儀器使用壽命,建議使用環境內溫度保持在20±5℃、濕度
鍍層測試儀是由于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離。接下來和一六一起了解鍍層測試儀使用方法及使用注意事項。鍍層測試儀的正確使用方法:一,打開電源觀察菜單。當你打開電源之后,你會觀察到顯示屏上面的菜單。這個時候,我們需要對它選擇一定的模式,測量模式主要分為F
貴金屬鍍飾鍍層測厚在實際應用中存在一些挑戰和難點,以下是其中一些主要難點:?1. 薄層厚度測量:貴金屬鍍飾鍍層通常具有非常薄的厚度,通常在納米至微米的范圍內。這使得傳統的測厚方法,如常規的厚度計,可能不夠精確,難以準確測量這樣薄的鍍層。?2. 多層結構影響:在一些情況下,貴金屬鍍飾鍍層可能是多層結構,由不同的金屬層組成。這種情況下,測量可能受到不同層之間互相影響的問題,從而導致
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
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