成分分析的作用及目的

時間：2019-12-23作者：深圳市啟威測標準技術服務有限公司瀏覽：400

深圳市啟威測標準技術服務有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等

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  詞條說明

• X射線光譜方法測定

  X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設

• 什么是表面微觀形貌SEM？

  表面所具有的微觀幾何形狀統稱為表面形貌(surface?topography)，?其中表面被定義為-?-種材料與其它材料之間的分界面"?(在工程表面的情況下，一種材料是空氣，另-種為固體材料，例如金屬、塑料等)。固體表面是指固體上代表實體和周圍環境邊界的部分。工程表面形貌代表著工件表面的主要外部特征，是由加工過程中的各種工序產生的。一個制件表面的微觀幾何形貌

• 表面成分分析需要的工具有哪些？

  表面成分分析工具化學抽提法微譜技術實拍--氣相色譜儀微譜技術實拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜（OES）電感耦合等離子體放射光譜（ICP-AES）電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）原子吸收光譜（AAS）手持式XRF

• SEM及EDS測試范圍有哪些？

  SEM的二次電子成像分辨率約3nm背散射電子成像分辨率約300nmEDS成分分析的元素范圍Be~U分析深度約1μm檢測下限約1%空間分辨率約1μmSEM+?EDS常規服務項目:各種固體材料的形貌分析微區化學成分檢測樣品成分的線分布和面分布分析機械探針式測量方法:探針式輪廓儀測量范圍大，測量精度高，但它是一種點掃描測量，測量費時。機械探針式測量方法是開發較早、研究充分的一一種表面輪廓測量方