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詞條說明
DR3800臺式分光光度計技術參數:操作模式:透過率(%)、吸光度和濃度光源:鎢燈預置程序:240多個用戶程序:50個數據存儲:1000組數據輸出:.csv文件格式波長范圍:320-1100 nm波長準度:±1.5nm(波長范圍在340-900nm之間)波長分辨率:1 nm光譜帶寬:5 nm波長校準:自動校準波長選擇:自動選擇:基于所選擇的哈希程序 自動選擇:基于TNT plus試劑瓶上印刷的條
本系統是汽車動力推進器分泵內壁缺陷檢測**設備,也可用于其它類似零部件的內孔缺陷在線檢測。整個系統包括機械、電氣控制裝置,檢測裝置三部分,機械部分采用旋轉,進給等機構,保證工件平穩進入檢測區域,實現自動檢測。檢測儀采用多通道、阻抗平面分析及非等幅相位/幅度報警技術,實時描繪渦流變化二維圖形,自動檢測、分選。特別適合生產現場的在線自動檢測。☆檢測原理 本系統不需要任何耦合劑,探頭與工件之間進行非接
渦流陣列技術 渦流陣列技術(ECA)以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈,并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數據,可避免不同線圈之間的互感。 OmniScan? ECA檢測配置在橋式或**-接收模式下可支持32個感應線圈(使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個)。操作頻率范圍為20 Hz~6 MHz,并能選擇在同一采集中使用多頻。渦流陣列的優勢 同單通道渦流技術相比
XPN-300偏光顯微鏡熔點儀一、用途 XPN-300偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校較常用的專業實驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業以及藥品檢驗等領域。偏光熔點測定儀采用微電腦
公司名: 北京中儀友信科技有限公司
聯系人: 陳勝
電 話: 010-57798167
手 機: 13261366561
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地 址: 北京海淀北京市大興區興華大街盈潤大廈2-410
郵 編: 100070
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