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EXPLORER 7000 便攜式礦石測試儀 秉承20多年X熒光光譜儀(便攜式光譜儀)研發經驗,儀器全新一代手持XRF礦石分析儀——探索者EXPLORER 7000再次帶來了一場分析領域的革命。EXPLORER 7000引入數字多道技術,使檢出限低,穩定性高,適用面廣,性能媲美臺式機;小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類地質礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析中充分發揮作用,使探礦工作為簡單、輕松。
國家質檢總局發布的國家標準GB/T18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進行貴金屬含量的無損檢測方法。 目前在貴金屬制造行業已經形成大規模使用X熒光光譜儀(XRF)來測試貴金屬含量。 XRF對貴金屬檢測的特優勢 標準:產品符合國家相關行業標準和技術標準,并通過質監局等相關檢驗機構檢驗,并可以提供校準證書; 快速:對樣品無需前處理,一般只需要20~20
ROHS2.0檢測儀器在各個領域的廣泛應用,根據優化產品性能和提高安全防護等級的需求應用新一代的高壓電源和X光管,提高產品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。?ROHS2.0檢測儀器性能優勢下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求準直器和濾光片:多種準直器和濾光片的電動切換,滿足各種測試方式的應用移動平臺:精細的手動移動平臺,方便定位測試點高分辨率探測器:提高分析的準確性新一代
X熒光鍍層分析儀介紹X熒光鍍層分析儀 大家可能會有寫陌生,那么接下來讓大家對它了解下。一、測量。1、通過自動定位功能提高操作性測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。2、微區膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。3、多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標準片
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯系人: 陶
電 話: 13405100207
手 機: 13405100207
微 信: 13405100207
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號產業園/深圳市寶安區松崗街道芙蓉路9號B座22樓
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