便攜式光譜儀性能

時間：2018-07-23

作者：蘇州百測檢測科技有限公司

詞條
詞條說明
X射線熒光光譜儀的技術指標
X射線熒光光譜儀的技術指標如下：元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）分析檢出限可達1ppm 分析含量一般為1ppm到99.99％任意多個可選擇的分析和識別模型相互獨立的基體效應校正模型多變量非線性回歸程序溫度適應范圍為15℃至30℃ 電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源能量分辨率：160±5eV 外觀尺寸： 550×416×333mm 樣品腔尺寸：460×298×98mm
鍍層測厚儀工作原理
利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。針對檢測樣本的不同種類，可在下列3種型號中進行選擇。測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、**薄薄膜的型號，能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號，適合對陶瓷芯片電極部分中，過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進行高能測量的型號。兼顧易
手持式光譜分析儀
手持式光譜合金分析儀explorer系列產品的性能良好，精度高，接近實驗室級的分析水平，可直觀顯示合良好號和元素百分比含量（某些元素可顯示到小數點后三位）及ppm含量。開機啟動—瞄準測試—察看結果”，整個分析過程僅需數秒便可完成，合良好號鑒別只需1~2秒鐘，操作簡單，即使非技術人員也可輕松掌握。采用堅韌的LEXAN.塑料密封外殼，重量輕，堅固耐用；密封式一體化設計，防塵、防水、防腐蝕，可在多種條
光電直讀光譜儀介紹
光電直讀光譜儀的全譜分析技術覆蓋了全元素分析范圍，可根據客戶需要選擇通道元素；分析速度快捷，20秒內測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料，通過設置預燃時間及標線，使儀器用較短的時間達到較優的分析效果；金屬直讀光譜儀OES8000可測定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。 1、光學系統采用真空恒溫光室