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目前直讀光譜儀也可以來分析非金屬元素,如C、S等,在樣品的測試結果方面,直讀也基本可以滿足要求。 很多廠家試驗室有了直讀光譜儀,就覺得不需要碳硫分析儀器了,真的是這樣嗎?就兩者的專業性來看,直讀光譜儀和碳硫分析儀兩者是互補的,不能替代的原因有:1、工作原理不同,一個是原子**光譜分析,一個是分子紅外吸收。如果用直讀光譜儀來分析C/S,這兩個元素的靈敏線都在遠紫外區,由于分光器件和探測器光譜靈敏度等
在工業生產和質量控制中,準確測量金屬鍍層的厚度和成分至關重要。臺式X熒光光譜儀作為一種高效、精確的分析工具,能夠滿足這一需求,幫助企業和研究人員實現對金屬鍍層的無損檢測。今天創想儀器小編給大家介紹下臺式X熒光光譜儀在金屬鍍層測量中的應用及其優勢。臺式X熒光光譜儀的工作原理臺式X熒光光譜儀利用X射線照射待測樣品,激發樣品中的原子產生熒光。每種元素都有其*特的熒光光譜,類似于指紋,因此可以通過分析熒光
在這個迅速發展的時代,不銹鋼、模具鋼業已成為現代制造業的關鍵支撐,然而不銹鋼模具鋼的質量和性能成為很多廠家所關注的。伊瓦特手持式光譜儀,憑借其精確的光譜分析技術,可以在幾秒內對材料的成分進行高效檢測,確保生產的原材料符合嚴格的質量標準,在質檢環節,進行無損檢測,快速分析原材料中的元素含量,確保材料的符合標準。伊瓦特手持光譜儀使得實時檢測不再受制于實驗室環境,高度的準確性和快速分析能力,大大縮短了產
臺式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(不能用添加劑)。在各種應用中,粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個臺式X熒光光譜儀測試時粉末樣品誤差來源。粉末樣品誤差主要來源:(1) 粒度效應 粉末樣品粒度效應是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關。一般來說,被分析樣品的粒度越小,熒光強度越高,輕元素尤甚。原子序數越小,對粒度越敏感;同一元素粒度越小,
公司名: 無錫創想分析儀器有限公司杭州分公司
聯系人: 馬建洲
電 話: 0510-83205379
手 機: 18262253279
微 信: 18262253279
地 址: 江蘇無錫濱湖區富潤路8號
郵 編: 214161
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